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產(chǎn)品名稱:

電化學(xué)工作站分析系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào): DF2031-A 更新時(shí)間: 2024-09-19
電化學(xué)工作站分析系統(tǒng)儀器架構(gòu):恒電位儀、恒電流儀

接地模式:可根據(jù)體系要求設(shè)置成實(shí)地模式或浮地模式

槽壓:±15V

?電位掃描范圍:±12.8V

CV最小電位增量:0.0125mV

電位控制精度:<±0.5mV

電位控制噪聲:<0.01mV

電位上升時(shí)間:<0.25uS

產(chǎn)品概述

品牌其他品牌產(chǎn)地類別國(guó)產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域化工

DF2031-A電化學(xué)工作站分析系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù):

儀器架構(gòu):恒電位儀、恒電流儀

接地模式:可根據(jù)體系要求設(shè)置成實(shí)地模式或浮地模式

槽壓:±15V

電位掃描范圍:±12.8V

CV最小電位增量0.0125mV

電位控制精度:<±0.5mV

電位控制噪聲:<0.01mV

電位上升時(shí)間:<0.25uS

電位測(cè)量零位:自動(dòng)校正

電位更新及阻抗采集速率:10MHz

電位測(cè)量低通濾波器:自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置

電位測(cè)量精度:滿量程的0.1%

掃描速度:0.000001V/S~20000V/S

參比電極輸入阻抗//電容:>1013Ω//<10pF

最大恒電流輸出 :±500mA

輸入偏置電流:<0.1pA

電流測(cè)量分辨率:電流量程的0.00076%,最小0.2fA

電流測(cè)量零位:自動(dòng)校正

電流測(cè)量量程:1pA~500mA(25檔)

前置放大倍數(shù):5×10×100

電流測(cè)量最高靈敏度:1×10-12A/V

電流測(cè)量精度:滿量程的0.1%

電流測(cè)量低通濾波器:自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置

方波伏安法頻率:1Hz~100kHz

CA和CC脈沖寬度:0.1mS~1200S

DPV脈沖寬度:0.05mS~64S

IR降補(bǔ)償:自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置(10Ω~1MΩ)

多階躍循環(huán)次數(shù):1000次

限壓反饋恒流換向時(shí)間:<0.1mS

恒流限壓循環(huán)周期:0.1S~100000S

電池全容量充電工步:激活、恒流、恒壓、涓流

雙通道高速ADC:18bit@1Msps

最大數(shù)據(jù)長(zhǎng)度:20,000,000點(diǎn)

通氮攪拌及敲擊控制輸出:二路開(kāi)關(guān)量信號(hào)(+5V/10mA)

擴(kuò)展輸出:二路光電隔離數(shù)字量信號(hào)

儲(chǔ)能電化學(xué)測(cè)量保護(hù)模式:極性、電壓、電流、時(shí)間、鏈路

電極智能柔性保護(hù) :電壓超載、電流超載

二、DF2031-A電化學(xué)工作站分析系統(tǒng)測(cè)試方法包括:

線性掃描伏安法LSV

多電流階躍計(jì)時(shí)電位法

線性掃描溶出伏安法

控制電流E-T曲線

線性掃描循環(huán)伏安法LCV

塔菲爾圖Tafel

動(dòng)電流掃描I-E曲線

電池恒流充電

階梯伏安法SV

電池恒流放電

階梯溶出伏安法

電池恒流循環(huán)充放電

階梯循環(huán)伏安法SCV

電池全容量分段充電

方波伏安法SWV

電池全容量分段放電

方波溶出伏安法

半電池恒流陽(yáng)極極化

方波循環(huán)伏安法SWCV

半電池恒流陰極極化

差示脈沖伏安法DPV

半電池恒流循環(huán)極化

差示脈沖溶出伏安法

恒流限壓快速循環(huán)充放電

常規(guī)脈沖伏安法NPV

高阻電位計(jì)

差示常規(guī)脈沖伏安法DNPV

零阻電流計(jì)

單電位階躍計(jì)時(shí)電流法CA

環(huán)形掃描

單電位階躍計(jì)時(shí)電量法CC

差分脈沖電流檢測(cè)

多電位階躍計(jì)時(shí)電流法

雙差分脈沖電流檢測(cè)

多電位階躍計(jì)時(shí)電量法

三脈沖電流檢測(cè)

恒電位電解I-T曲線

積分脈沖電流檢測(cè)

恒電位電解Q-T曲線

鍍錫量測(cè)定

恒電位溶出I-T曲線

控制電位電解庫(kù)侖法

恒電位溶出Q-T曲線

四探針電阻率測(cè)量

開(kāi)路電位E-T曲線OCPT

器件電阻電源內(nèi)阻測(cè)量

電位溶出E-T曲線

線狀材料電阻率測(cè)量

單電流階躍計(jì)時(shí)電位法CP

刀狀探頭方塊電阻測(cè)量

宏方法(用戶可自編腳本進(jìn)行多種電化學(xué)方法的組合運(yùn)行)




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